Xstress 3000便携式残余奥氏体测定仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，它以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，Xstress 3000便携式残余奥氏体测定仪配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。

芬兰公司主要产品有：残余应力分析仪，磨削烧伤检测仪，激光小孔法应力检测仪，Xstress 3000便携式残余奥氏体测定仪，传感器，常规检测支架，X射线衍射仪和检测支架，和小孔法残余应力检测仪。利用巴克豪森噪声在多种不同领域对磁性属性进行研究，确定缺陷存在与否和部件（像齿轮、轴承、凸轮轴、曲轴、万向接头、活塞销等）残余应力等级。X-射线应力分析仪运用的是X射线衍射技术来测量残余应力和残余奥氏体含量。棱镜系统基于钻孔技术来测量残余应力。